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所屬系列：ZJYQ-GYXWSEM-ZEISS
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利用成熟的 Gemini 電子光學元件，將佳的分析性能與場發射掃描技術相結合。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma 半自動的4步工作流程節省大量的時間：設置成像與分析步驟，提率。
Sigma
300 性價比高。Sigma 500 裝配有背散射幾何探測器，可快速方便地實現基礎分析。樣品均可獲得更精準可重復的分析結果。
蔡司場發射掃描電鏡Sigma系列落地式掃描電子顯微鏡特點：
l用于清晰成像的靈活探測
*利用探測術為您的需求定制 Sigma，表征所有樣品。
*利用 in-lens 雙探測器獲取形貌和成份信息。
*利用新一代的二次探測器，獲取高達50%的信號圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 的 C2D 和 可變壓力探測器，在低真空環境下獲取高達85%對比度的銳利的圖像。
l自動化加速工作流程
*4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶環境中，從快速成像和節省培訓先，先對樣品進行導航，然后設置成像條件。
*先，先對樣品進行導航，然后設置成像條件。
*接下來對樣品感興趣的區域進行優化并自動采集圖像。后使用工作流程的后一步，將結果可視化。
l分析型顯微鏡
*將掃描電子顯微鏡與基本分析相結合：Sigma 的背散射幾何探測器大大提升了分析性能，特別是對電子束的樣品。
*在一半的檢測束流和兩倍的速度條件下獲取分析數據。
*獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角，獲取完整且無陰影的分析結果。
